價格
電議
型號
PCT-35
品牌
www.kqtest.net
所在地
廣東省 東莞市
更新時間
2019-03-07 17:40:02
瀏覽次數
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| 高壓加速老化壽命試驗機規格 | ||||
| 規格/SPEC： | ||||
| 型 號 | PCT - 25 | PCT - 30 | PCT - 35 | PCT - 45 |
| 內部尺寸(W×H×D)mm | Φ250×300 | Φ300×400 | Φ300×500 | Φ450×500 |
| 外箱尺寸(W×H×D)mm | 650×600×550 | 650×600×650 | 650×600×750 | 800×750×750 |
| 使用溫度 | 121℃；132℃；(143℃特殊選用) | |||
| 使用濕度 | 100％RH飽和蒸氣濕度 | |||
| 使用蒸氣壓力(壓力) | 1個環境大氣壓 +0.0Kg／cm2- 2.0Kg／cm2；(3.0Kg／cm2屬于特殊規格) | |||
| 循環方式 | 水蒸氣自然對流循環 | |||
| 安全保護裝置 | 缺水保護，壓保護、 (具有自動／手動補水功能，自動瀉壓功能) | |||
| 配 件 | 不銹鋼隔板兩層 | |||
| 電 源 | AC220V，50／60Hz／AC380V , 50／60Hz | |||
| 高壓加速老化壽命試驗機性能： | ||||
| 加速壽命試驗的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。 | ||||
| 用于調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。 | ||||
| 隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了新的壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT(HAST) 現在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC(國際電工委員會)所標準化。 | ||||
| 注意事項：USPCT現在稱為HAST(高度加速應力試驗) | ||||
| 高壓加速老化壽命試驗機適用行業： | ||||
| 廣泛應用于半導體，多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。 | ||||
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