微分干涉顯微鏡（PDB檢測顯微鏡）DMM-1100C

一、DMM-110C透反射金相顯微鏡主要用途：

DMM-1100C型透反射金相顯微鏡采用優良的無限遠光學系統與模塊化的功能設計理念，可實現偏光觀察、明場觀察、反射暗場、透射觀察、反射微分干涉觀察功能。設計符合人機工程學要求的理想設計，低手位操作更方便舒適。適用于金相組織及表面形態的顯微觀察，本儀器適合電子、冶金、化工和儀器儀表行業用于觀察半透明或不透明的物資，適合對太陽能電池硅片、半導體晶圓檢測、電路基板、FPD、精密模具的檢測分析等。

二、DMM-110C透反射金相顯微鏡的主要特點：

1、采用優良的無限遠光學系統，提供的光學性能，配無限遠長工作距離物鏡，寬目鏡觀察筒及φ22mm大視野目鏡.

2、低手位操作，降低長時間操作時的疲勞，儀器主體采用全白噴漆，美觀大方，采用內六角螺釘固緊儀器連接部分，無任何裸露在外的螺釘.

3、三目鏡筒,可自由切換正常觀察與偏光、反射、透射、暗場、微分干涉觀察，可進行透光攝影.

4、高像素數字成像系統，電腦顯示成像真實清晰，多種攝像機和功能軟件可供選擇.

5、低位粗微動同軸調焦機構，微動格值:2μm，帶鎖緊限位裝置，防止鏡頭碰觸樣品和載物臺自動下滑.

6、微分干涉相襯觀察時圖像清晰，干涉色均勻，具有較強的浮雕感.