X熒光貴金屬鍍層測厚儀EDX600PLUS是天瑞集多年的經驗，專門研發用于鍍層行業的一款儀器，可全自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及移動平臺。是一款功能強大的儀器，配上專門為其開發的軟件，在鍍層行業中可謂大展身手。

詳情介紹

天瑞儀器X熒光貴金屬鍍層測厚儀 Thick800A X 熒光鍍層測厚儀是一款功能強大、儀器，以下是其詳細介紹1：

• 性能特點

• *定位測試：配備高移動平臺，重復定位小于 0.005mm，可準確定位測試點。采用高度定位激光，能自動定位測試高度，通過定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊，還可通過鼠標控制移動平臺，點擊位置即為被測點，滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求。

• 微小測試點分析：φ0.1mm 的小孔準直器可滿足微小測試點的需求。

• 高分辨率檢測：高分辨率探頭搭配高性能電致冷半導體探測器，使分析結果更加準確。

• 安全防護完善：具有良好的射線屏蔽作用，測試口高度敏感性傳感器可保護測試口不被樣品撞擊。

• X熒光貴金屬鍍層測厚儀技術指標

• 元素分析范圍：從硫（S）到鈾（U）。

• 元素與鍍層分析能力：同時可分析 30 種以上元素，五層鍍層。

• 分析含量范圍：一般為 ppm 到 99.9%。

• 鍍層厚度測量范圍：一般在 50μm 以內（每種材料有所不同）。

• 其他參數：溫度適應范圍為 15℃至 30℃，電源為交流 220V±5V，建議配置交流凈化穩壓電源。外觀尺寸為 576 (W)×495 (D)×545 (H) mm，樣品室尺寸為 500 (W)×350 (D)×140 (H) mm，重量為 90kg。

• 應用領域

• 主要用于貴金屬加工和首飾加工行業、銀行、首飾銷售和檢測機構、電鍍行業，可進行黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測，以及金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定。