儋州卡尺校正機構-2023已更新:

在選擇探頭校正方法時，應當避免多種錯誤理念和陷阱，這些理念和陷阱影響所有的校正方法，包括直流校正、交流校正以及用戶交流校正。*需要注意的一個錯誤理念是認為探頭校正可以一定程度地改進低質量探頭，這是一個誤區，低質量探頭通常具有極不平坦的頻率響應，有較大的波動，波動的波峰和波谷對應的頻點若明顯低于探頭帶寬，在這些頻點上校正探頭頻響副作用會非常明顯，就是本底噪聲大幅增加，很多時候是不可取的。
另外，設計欠佳的探頭一般負載效應很明顯，探頭校正無法消除該探頭與被測器件連接時產生的負載效應，校正只能改變已經顯示在示波器屏幕上的信號，若信號進入示波器之前已經被探頭負載效應改變太多，校正也無能為力。為了獲得對被測器件影響*小的測量結果，探頭用戶應近可能選擇高輸入阻抗的探頭，同時，用戶也應了解用軟件的方法提升帶寬通常會帶來噪聲增加的后果。

憑借特定的探頭響應定義及其校正方案，示波器能夠在屏幕上顯示上升時間短于實際被測信號的波形。例如，如果采用 Vout/Vsource 探頭響應定義，Vin 可能會出現明顯的峰值以補償探頭負載效應，但仍然會產生平坦響應。在這種情況下，當信號通過探頭時高頻內容會會得到放大（相對于低頻內容），并且探頭響應會得到提升以補償因探頭負載導致的頻率下滑。這會“凸顯”快速邊沿的高頻內容，使其獲得似乎高于被測信號（Vin）的速度。一些用戶希望看到被測器件具有快速的邊沿，但他們必須認識到探測系統所顯示的可能并不是實際狀況。通由用戶可操作的交流校準（例如 Agilent PrecisionProbe），示波器用戶可以輕松地選擇探頭響應的定義方法，避免不必要的理論爭吵；
　　用戶可操作的交流校正方法是使用夾具對用戶的探頭進行校準和校正，因此校正時使用的探頭設置和附件必須盡可能與實際設置一致，否則校正可能是無意義的，也就是說，校正和實際測試時，所使用的探頭、前端或附件長度與空間方位間隔應該完全相同。
　　探頭校正方法十分復雜，并且其復雜程度將隨著探頭和示波器性能的增強而加深。校正方法有三個進階，入門進階是用戶定期對探頭進行直流校準，第二進階是使用由工廠完成的交流校正方法來改進測量精度。第三進階，也就是對于探頭要求很高的用戶，是使用用戶可操作的交流校準（即 安捷倫的 Precision Probe套件），以改進測量并降低探測工作的復雜程度。了解不同的探頭校正方法及其細微差別可以確保探頭用戶獲得*的測量保真度。